顯 微 系 統

光路系統

有限遠機械筒長

觀察頭

45 度鉸鏈式三目頭 (50mm -75mm),對中望遠鏡,可100%通光攝影

45 度鉸鏈式雙目頭 (50mm -75mm),對中望遠鏡

目鏡

WF10X/Ф20mm

長工作距平場消色差物鏡

倍率

數值孔徑(N.A.)

工作距離(W.D.)

10×

0.25

8.1

25×

0.4

4.8

40×(S)

0.6

3.3

相襯物鏡

10×

0.25

8.1

放大倍數

40×-400×

物鏡轉輪

四孔內向物鏡轉換器

載物臺

雙層移動平臺:200mmX152mm,移動范圍: 75mmX30mm

聚光鏡

N. A.0.4 阿貝聚光鏡,工作距離 30mm,帶濾色片托架

標本架

Φ68mm/Φ72或77mmX33mm培養器皿

相襯裝置

10×相襯環板中心可調

調焦機構

粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置板,微動格值:2μm,調焦范圍:30mm

照明系統

鹵素燈 6V/20W，可調光亮度

總放大倍數

4倍——1600倍

攝 像 系 統

最高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

最高清晰度

900線

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實際觀測范圍

1微米——3000微米

軟件參數

軟 件 功 能

靜態采集

將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片

圖片處理

使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理

圖像拼接

將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數量以提高測試的代表性

顆粒的自動處理工具集

自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。

比例尺標定

通過國家標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數值即可直接得到顆粒的實際大小數值。

單個顆粒數據

可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數的分析

任務管理機制

嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數據井井有條的管理起來。

報告輸出

將測試結果輸出為報告，并可以自定義報告樣式。

整體分布特征參數

D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數

報 告 參 數

整體頻率分布累計分布

顆粒按數量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數據表、曲線圖、柱狀圖等。

統計平均徑

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統計平均徑

形狀參數

長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數等表征顆粒形狀的10多項常用數據

個數統計

直接得到所觀測的顆粒數量

樣品縮略圖

可以將樣品縮略圖顯示到報告中

表頭輸入

可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中

自定義LOGO

用戶可以自定義LOGO和報告名稱，使輸出的報告顯示自己公司的信息